真空対応ウェハーマッピングFTIR測定装置 760MNK ウェハー上に成膜した材料を真空下でFTIRを用いて測定し、ウェハー内の組成分布解析や各成分の定量分析が可能です。 FTIRの基本機能に加えて、真空下でウェハー内をマッピングすることにより短時間で容易に水蒸気・炭酸ガス等のバックグラウンドの影響が除去された高精度測定が可能です。 　　FTIR 真空排気対応 　　ウェハーマッピング部 サンプルサイズ 4～8inch ウェハー及び不定形状チップ 真空度 10Pa以下 　　ソフトウェア 自動マッピングソフトウェア マニュアル座標設定、R-θ設定、X-Y (スクエア)設定、 その他設定の追加も対応可能 標準設定、解析ソフトウェア