kSA MOS 薄膜応力&歪みリアルタイム測定システム
二次元平行配列レーザービームをサンプルに照射して、CCDカメラによる各ビームスポット位置検出により、ビームスポット間距離の変化を測定し、ウェハひずみ・応力・反射率・成長率・膜厚・光学定数(n,k)をリアルタイムで高精度に測定ができます。
k-Space Associates, Inc.
※表示価格は税込みです
真空計・圧力計
超高真空マニピュレータ
ガス導入系
蒸着・スパッタ源
閉じる
膜厚計
閉じる
リークディテクタ
真空計・圧力計
超高真空マニピュレータ
ガス導入系
蒸着・スパッタ源
閉じる
膜厚計
閉じる
リークディテクタ
真空計・圧力計
超高真空マニピュレータ
ガス導入系
蒸着・スパッタ源
閉じる
膜厚計
閉じる
リークディテクタ




二次元平行配列レーザービームをサンプルに照射して、CCDカメラによる各ビームスポット位置検出により、ビームスポット間距離の変化を測定し、ウェハひずみ・応力・反射率・成長率・膜厚・光学定数(n,k)をリアルタイムで高精度に測定ができます。
k-Space Associates, Inc.
※表示価格は税込みです