分析

kSA MOS 薄膜応力&歪みリアルタイム測定システム

二次元平行配列レーザービームをサンプルに照射して、CCDカメラによる各ビームスポット位置検出により、ビームスポット間距離の変化を測定し、ウェハひずみ・応力・反射率・成長率・膜厚・光学定数(n,k)をリアルタイムで高精度に測定ができます。

k-Space Associates, Inc.

※表示価格は税込みです

kSAMOS

販売価格:¥18,645,000

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option

膜厚レート測定オプション

参考価格:¥1,419,000

販売価格:お問合わせ下さい

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